Ich messe mit meinen Mitteln zwischen 1,6 bis 1,8 (ganz neu) und 4 mΩ (öfters benutzt) an meinen Steckverbindern hier, je nachdem wie oft sie verwendet wurden. Die Kabel habe ich zum Messen direkt an die Platine angelötet. Einzeln. Interessant ist, dass der äußere Kontakt (also dort, wo es immer anfing zu schmoren), fast immer den höchsten Widerstand aufwies.
Die Specs sagen maximal 6 mΩ (worst case) pro Kontakt, aber das ist dann schon arg bedenklich, denn die 9 bis 9,2 Ampere sind echt nichts, was Spaß macht. Ich war im Zoom-Meeting mit NVIDIA (bei Astron), wo es auch um diese Messungen ging und ich glaube denen auch.
Edit:
Ich weise darauf hin, dass es sich hier um eine reine LLCR-Messung handelt (erkennt man auch im Protokoll). Zum Verständnis: Die LLCR (Low Level Contact Resistance) wird verwendet, um den elektrischen Widerstand eines zu prüfenden Systems mit einer definierten Leerlaufspannung zu messen. Die Spannung ist dabei immer so niedrig, dass dünne Filme und Schichten, die sich möglicherweise auf der Kontaktfläche befinden, nicht zerstört werden. Die Stromstärke ist zudem auch niedrig genug, um sicherzustellen, dass der zu prüfende Kontakt nicht erhitzt wird und die Oberflächen sich nicht verändern. Der Strom ist also so niedrig, dass auch die Oxidschichten nicht zerstört werden und die Ergebnisse verfälschen. Es wird immer mit einem Amperemeter und einem Voltmeter gemessen, nicht mit einem einfachen Multimeter. Ich nutze z.B. 20 mV zum Messen bei Stromstärken um die 100 mA maximal (EIA-364-23). Aber da kommen wir jetzt zu sehr ins Detail. Nur soviel: ich messe ja auch die Kontakte bei Headsets, ob die die Vorspannung fürs Elektretmikrofon absinkt. Viele Headsets, die angeblich "rauschen" haben nämlich ein simples Kontaktproblem, auch gern an der Buchse am Gehäuse bzw. Motherboard.